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产品名称

变温霍尔效应仪

霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量,进行半导体电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
编号
a1105
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产品描述

型号规格: HT-648

技术指标:

型号
主要技术指标
HT-648 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量,进行半导体电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。

 

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